Детальная информация

Название: Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение. — 2-е изд.
Другие авторы: Жу Уэйли; Уанга Жонг Лин; Иванов С. А.; Домкин К. И.; Каминская Т. П .
Выходные сведения: Москва: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2014
Коллекция: ЭБС "Айбукс.ру/ibooks.ru"; Общая коллекция
Тематика: Наноструктурные материалы; Электронные микроскопы
УДК: 620.22-022.53; 621.385.833.2
Язык: Русский
Права доступа: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)

Разрешенные действия: Посмотреть

Аннотация

Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Использование РЭМ включает изучение наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Книга предназначена не только для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но может быть использована также студентами вузов и разработчиками новых типов растровых электронных микроскопов.

Статистика использования

stat Количество обращений: 3
За последние 30 дней: 1
Подробная статистика