Детальная информация
| Название | Наноматериалы для радиоэлектронных средств: методические указания к лабораторным работам по курсу «Наноматериалы для радиоэлектронных средств»: методическое пособие. 2. Исследование наноматериалов с помощью сканирующего туннельного микроскопа |
|---|---|
| Авторы | Малышев К. В. ; Башков В. М. ; Мешков С. А. |
| Выходные сведения | Москва: МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2007 |
| Коллекция | ЭБС "Университетская библиотека ONLINE" ; Общая коллекция |
| Тематика | Учебник для высшей школы |
| УДК | 621.28 |
| ББК | 32.85я73 |
| Тип документа | Учебник |
| Язык | Русский |
| Права доступа | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение) |
| Ключ записи | BIBLIOCLUB\0000257050 |
| Дата создания записи | 23.06.2025 |
В данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. Во второй части изучается измерение электрических характеристик наноматериалов с помощью СТМ.Для студентов 6-го курса приборостроительных специальностей.
Количество обращений: 16
За последние 30 дней: 8
