Проведен анализ схем трассировки лучей в среднем ИК диапазоне через основные модельные формы ограненных и неограненных алмазов, используемых для определения концентраций основных дефектов на основе измерения оптического поглощения. Показано, что в традиционной схеме измерений на просвет из-за преломления и рассеяния во многих кристаллах регистрируется лишь малая доля падающего на кристалл излучения, что приводит к ухудшению отношения сигнал/шум и сужению динамического диапазона уровней сигнала. Даны практические рекомендации и предложены оптимальные варианты схем трассировки лучей через наиболее характерные формы кристаллов, обеспечивающие регистрацию максимальной доли прошедшего через кристаллы излучения и позволяющие реализовать эффективные измерения оптического поглощения в широком динамическом диапазоне для определения концентраций основных дефектов с высоким отношением сигнал/шум.

Оптика и спектроскопия. — Санкт-Петербург: Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе Российской академии наук, 2022 -. — Электрон. журнал. — Периодичность: 12 раз в год. — Размещен на платформе "eLIBRARY.RU", ООО НЭБ: https://elibrary.ru/. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://elibrary.ru/title_about_new.asp?id=7925>.

Оптика и спектроскопия. — Санкт-Петербург: Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе Российской академии наук, 2022 -. Т. 131, № 2, 2023. — (29 ст.). — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://elibrary.ru/contents.asp?id=53750390>.