Детальная информация
| Название | КР-микроспектроскопия напряжений, возникающих при фемтосекундном лазерном микропробое алмаза // Оптика и спектроскопия. – 2024. – Т. 132, № 1. — С. 75-78 |
|---|---|
| Авторы | Помазкин Д. А.; Данилов П. А.; Кудряшов С. И.; Мартовицкий В. П.; Матяев И. Д.; Васильев Е. А. |
| Организация | "Сверхбыстрые оптические явления (UltrafastLight-2023)", конференция |
| Выходные сведения | 2024 |
| Коллекция | Общая коллекция |
| Тематика | Физика; Физическая оптика; Спектроскопия; микроспектроскопия; микроспектроскопия напряжений; спектроскопия комбинационного рассеяния; алмазы; микропробои алмазов; лазерные микропробои; фемтосекундные микропробои; оптические пробои алмазов |
| УДК | 535.2/3; 535.33 |
| ББК | 22.343; 22.344 |
| Тип документа | Статья, доклад |
| Тип файла | Другой |
| Язык | Русский |
| DOI | 10.61011/OS.2024.01.57553.2-24 |
| Права доступа | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение) |
| Дополнительно | Новинка |
| Ключ записи | RU\SPSTU\edoc\73569 |
| Дата создания записи | 02.09.2024 |
Изучены индуцированные напряжения, вызванные лазерным оптическим пробоем в объеме природного алмаза, полированного по плоскости (331), фемтосекундными (300 fs) лазерными импульсами с различной энергией. С помощью скрещенных поляризационных фильтров визуализированы зоны сжатия и растяжения в областях воздействия. Получены профили напряжений методом спектроскопии комбинационного рассеяния, а также зависимости напряжений от энергии лазерного импульса в ключевых точках профилей. Результаты профилирования показали, что рост напряжений растяжения происходит быстрее, чем сжатия с увеличением энергии накачки.
Количество обращений: 15
За последние 30 дней: 5
