Детальная информация

Название Анализ оптических свойств массива полусферических наночастиц Ag на поверхности SiO[2]/c-Si методом спектральной эллипсометрии // Оптика и спектроскопия. – 2024. – Т. 132, № 7. — С. 779-785
Авторы Ермина А. А. ; Большаков В. О. ; Пригода К. В. ; Толмачев В. А. ; Грудинкин С. А. ; Жарова Ю. А.
Выходные сведения 2024
Коллекция Общая коллекция
Тематика Физика ; Оптические свойства твердых тел ; полусферические наночастицы ; оптические свойства ; спектральная эллипсометрия ; кремний ; поверхностный плазмонный резонанс ; модель Друде ; Друде модель ; термическая обработка
УДК 539.21:535
ББК 22.374
Тип документа Статья, доклад
Язык Русский
DOI 10.61011/OS.2024.07.58903.6515-24
Права доступа Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)
Ключ записи RU\SPSTU\edoc\74762
Дата создания записи 05.12.2024

Разрешенные действия

Посмотреть

Рассмотрен разупорядоченный массив самоорганизующихся полусферических наночастиц Ag на поверхности SiO[2]/Si. Структуры получены с помощью простого, воспроизводимого и недорогого метода восстановления Ag из раствора на поверхности монокристаллического кремния c последующей термической обработкой в атмосфере O[2] при 350 C. Проведен анализ оптических свойств, полученных неразрушающим методом спектральной эллипсометрии. Предложена многослойная модель с параболическим градиентом Ag/воздух для приближения эффективной среды Бруггемана, которая позволила с высокой точностью (+/-5 nm) определить толщину слоя наночастиц Ag. Положения "объемного" и локализованного плазмонных резонансов определены с помощью модели Друде и осцилляторов Лоренца.

...