Детальная информация

Название: Влияние мощного импульсного ионного пучка на топографию поверхности вольфрама // Физика и химия обработки материалов: научно-технический журнал. – 2022. – № 6. — С. 5-10
Авторы: Лигачев А. Е.; Жидков М. В.; Колобов Ю. Р.; Потемкин Г. В.; Лукашова М. В.; Ремнев Г. Е.; Павлов С. К.; Тарбоков В. А.
Выходные сведения: 2022
Коллекция: Общая коллекция
Тематика: Физика; Физика твердого тела. Кристаллография в целом; вольфрам; поверхность вольфрама; топография поверхности вольфрама; ионные пучки; импульсные ионные пучки; мощные импульсные пучки; растровая электронная микроскопия; tungsten; tungsten surface; tungsten surface topography; ion beams; pulsed ion beams; powerful pulse beams; scanning electron microscopy
УДК: 539.2
ББК: 22.37
Тип документа: Статья, доклад
Тип файла: Другой
Язык: Русский
DOI: 10.30791/0015-3214-2022-6-5-10
Права доступа: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)
Ключ записи: RU\SPSTU\edoc\70048

Разрешенные действия: Посмотреть

Аннотация

Проведена обработка поверхности вольфрама мощным импульсным ионным пучком на ускорителе ТЕМП (ионы C[n]{+}, ускоряющее напряжение 200 +/- 10 кВ, плотность энергии одиночного импульса 2,5 - 3,0 Дж/см{2}). Исследованы изменения рельефа и структуры поверхности образцов вольфрама методом растровой электронной микроскопии.

The tungsten surface was processed by high power pulsed ion beam at the TEMP accelerator (C[n]{+} ions, accelerating voltage 200 +/- 10 kV, energy density of a single pulse 2.6 - 3.0 J/cm{2}). Changes in the relief and structure of the surface of tungsten samples were studied by scanning electron microscopy.

Статистика использования

stat Количество обращений: 18
За последние 30 дней: 1
Подробная статистика