Детальная информация
| Название | Влияние стехиометрии теллура и цинка на эллипсометрические спектры ZnTe/GaAs (100) // Оптика и спектроскопия. – 2025. – Т. 133, № 3. — С. 274-280 |
|---|---|
| Авторы | Грекова А. А. ; Климов Е. А. ; Виниченко А. Н. ; Бурлаков И. Д. |
| Организация | "Saratov Fall Meeting-2024", международная конференция |
| Выходные сведения | 2025 |
| Коллекция | Общая коллекция |
| Тематика | Физика ; Молекулярная физика в целом ; теллурид цинка ; стехиометрия ; эллипсометрические спектры ; спектральная эллипсометрия ; молекулярно-лучевая эпитаксия ; молекулярные потоки ; оптические свойства ; эпитаксиальные слои |
| УДК | 539.19 |
| ББК | 22.36 |
| Тип документа | Статья, доклад |
| Язык | Русский |
| DOI | 10.61011/OS.2025.03.60243.5-25 |
| Права доступа | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение) |
| Ключ записи | RU\SPSTU\edoc\77270 |
| Дата создания записи | 31.10.2025 |
Исследовано влияние стехиометрии молекулярных потоков Zn : Te на оптические свойства теллурида цинка. Рассмотренные структуры ZnTe были получены на подложках GaAs (100) с помощью метода молекулярно-лучевой эпитаксии. Посредством оптической эллипсометрии были определены эллипсометрические спектры параметра psi. Исследование показало, что особенности Ван-Хова E[1] и E[1]+delta[1], соответствующие 3.65 eV и 4.27 eV, являются характерными для соединения ZnTe. Избыток теллура в потоке падающего вещества приводит к одновременному уменьшению амплитуды и уширению экстремумов в спектре psi(lambda) из-за образования дефектов, поглощающих видимое излучение. Спектры показателя psi и мнимой компоненты диэлектрической проницаемости в области E > Eg содержат экстремумы, схожие по энергетическому положению. При преобладании одного из компонентов в соотношении Zn : Te, энергетические положения критических точек остаются постоянными при разной толщине образцов. Однако избыточный Zn в соотношении Zn : Te приводит к неопределенности энергетического положения края поглощения. Результаты исследования могут оказаться полезными для эллипсометрического экспресс-контроля стехиометрии и оценки кристаллического качества бинарных твердых растворов группы А[2]В[6] в составе эпитаксиальных слоев.
Количество обращений: 53
За последние 30 дней: 23