Детальная информация

Монография представляет картину создания и развития методов детектирования ультрабыстрых процессов структурной динамики и содержит описание теоретических основ принципов техники а также перспектив их совершенствования. Представлены достижения ультрабыстрых включая аттосекундный диапазон методов спектроскопии дифракции электронов рентгеновского излучения и электронной микроскопии для диагностики структурной динамики материи в состояниях далеких от равновесия и экстремальных состояниях вещества. В целом полученная информация представляет особую ценность для понимания взаимосвязи элементов триады «структура-динамика-функция». Наблюдение поведения вещества в пространственно-временном континууме исключительно важно для описания разнообразных процессов на атомно-молекулярном уровне. В перспективе это обеспечит контроль далеких от равновесия функциональных возможностей различных материалов создание новых атомномолекулярных технологий. Монография рекомендуется широкому кругу читателей интересующихся проблемами строения вещества ультрабыстрой структурной динамики в том числе исследования структуры и динамики наноматериалов: научным работникам аспирантам и студентам специализирующимся в этой увлекательной и интенсивно развивающейся области современного естествознания.