Детальная информация

Название: Исследование плазмонного резонанса в Bi[2]Se[3] и Sb[2]Te[3] методом инфракрасной спектральной эллипсометрии // Оптика и спектроскопия. – 2022. – С. 249-253
Авторы: Ализаде Э. Г.
Выходные сведения: 2022
Коллекция: Общая коллекция
Тематика: Физика; Спектроскопия; спектральная эллипсометрия; инфракрасная эллипсометрия; плазмонный резонанс; плазмоны; поляритоны; узкозонные проводники; друде-подгонка
УДК: 535.33
ББК: 22.344
Тип документа: Статья, доклад
Тип файла: Другой
Язык: Русский
DOI: 10.21883/OS.2022.02.51991.2599-21
Права доступа: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)
Ключ записи: RU\SPSTU\edoc\68522

Разрешенные действия: Посмотреть

Аннотация

В инфракрасной (ИК) области спектра методом ИК спектральной эллипсометрии (СЭ) исследованы оптические свойства монокристаллических образцов узкозонных вырожденных полупроводников Bi[2]Se[3] и Sb[2]Te[3]. Изучены транспортные свойства из друде-подгонки диэлектрических функций, полученных с помощью спектроскопической эллипсометрии. Детально исследовано поведение объемного и поверхностного плазмон-поляритонов. Рассчитаны дисперсия и длина свободного пробега плазмона, глубина скин-слоя для проводящей (исследуемые материалы) и диэлектрической поверхности (воздух). Оценен вклад плазмона в оптические свойства из спектральной плотности для образцов Bi[2]Se[3] и Sb[2]Te[3].

Статистика использования

stat Количество обращений: 17
За последние 30 дней: 0
Подробная статистика