По эмиссионным спектрам низкого разрешения (190-440 nm, разрешение 0.4 nm, шаг по спектру 0.1 nm) разработаны многопараметрические модели калибровки концентраций C, Mn, Si, Cr, Ni и Cu методом частичных наименьших квадратов в выборках, содержащих от 31 до 39 эталонов низколегированных сталей. Рассмотрены три метода выбора спектральных переменных: метод ранжирования спектральных переменных по их коэффициенту корреляции с величиной искомого параметра, алгоритм последовательного проецирования и оригинальная модификация метода поиска комбинации движущихся окон. Модель частичных наименьших квадратов с выбором спектральных переменных методом поиска комбинации движущихся окон для C является количественной: среднеквадратичное отклонение 0.004%, остаточное отклонение в проверочной выборке 23.4 в диапазоне концентраций от 0.13 до 0.43%. Количественными являются также калибровки концентраций Mn (0.04% и 5.2 в диапазоне 0.47-1.15%), Si (0.003% и 20.7 в диапазоне 0.15-0.33%), Cr (0.04% и 3.1 в диапазоне 0.09-0.43%) и Ni (0.01% и 4.8 в диапазоне 0.05-0.25%). Для Cu в диапазоне концентраций 0.06-0.26% калибровка является качественной (0.04% и 1.4).

Оптика и спектроскопия. — Санкт-Петербург: Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе Российской академии наук, 2022 -. — Электрон. журнал. — Периодичность: 12 раз в год. — Размещен на платформе "eLIBRARY.RU", ООО НЭБ: https://elibrary.ru/. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://elibrary.ru/title_about_new.asp?id=7925>.

Оптика и спектроскопия. — Санкт-Петербург: Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе Российской академии наук, 2022 -. Т. 130, № 10, 2022. — (20 ст.). — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://www.elibrary.ru/contents.asp?id=49748245>.