Анализ фемтосекундной модификации тонких пленок A-Ge[2]Sb[2]Te[5] методом XZ-сканирования / И. А. Будаговский, Д. О. Кузовков, П. И. Лазаренко, М. П. Смаев. — 1 файл (5,68 Мб). — (Лазерная физика и лазерная оптика). — DOI 10.61011/OS.2024.01.57545.7-24. — Текст: электронный // Оптика и спектроскопия. – 2024. – Т. 132, № 1. — С. 27-33. — Загл. с титул. экрана. — Статья, представленная на конференции "Сверхбыстрые оптические явления (UltrafastLight-2023)". — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://elibrary.ru/item.asp?id=67211223>.
| Период | Чтение | Печать | Копирование | Открытие | Итого |
|---|---|---|---|---|---|
| Вчера | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
| Последние 30 дней | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
| Последние 365 дней | 0 | 0 | 0 | 6 | 6 |
| За все время | 0 | 0 | 0 | 6 | 6 |