Оптический контроль параметров подложек и эпитаксиальных структур карбида кремния = Optical control of the parameters of substrates and epitaxial structures of silicon carbide / В. В. Лучинин, М. Ф. Панов, М. В. Павлова, Ф. Е. Рыбка. — 1 файл (787 Кб). — (Технологические процессы и маршруты). — DOI 10.24151/1561-5405-2022-27-2-175-186. — Текст: электронный // Известия высших учебных заведений. Электроника = Proceedings of universities. Electronics: научно-технический журнал. – 2022. – С. 175-186. — Загл. с титул. экрана. — Список литературы представлен на русском и английском языках. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://www.elibrary.ru/item.asp?id=48315869>.
Период
|
Чтение
|
Печать
|
Копирование
|
Открытие
|
Итого
|
Вчера
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
Последние 30 дней
|
0
|
0
|
0
|
9
|
9
|
Последние 365 дней
|
0
|
0
|
0
|
21
|
21
|
За все время
|
0
|
0
|
0
|
37
|
37
|