Выбор спектральных переменных в многопараметрической калибровке концентраций C, Mn, Si, Cr, Ni и Cu в низколегированных сталях методами лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии / М. В. Бельков, Д. А. Борисевич, К. Ю. Кацалап, М. А. Ходасевич. — 1 файл (213 Кб). — (Прикладная оптика). — DOI 10.21883/OS.2022.10.53634.3895-22. — Текст: электронный // Оптика и спектроскопия. – 2022. – С. 1611-1616. — Загл. с титул. экрана. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://www.elibrary.ru/item.asp?id=49748265>.
Период | Чтение | Печать | Копирование | Открытие | Итого |
---|---|---|---|---|---|
Вчера | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
Последние 30 дней | 0 | 0 | 0 | 4 | 4 |
Последние 365 дней | 0 | 0 | 0 | 22 | 22 |
За все время | 0 | 0 | 0 | 31 | 31 |