Московская, Ю. М. Прогнозный контроль радиационной стойкости микросхем в серийном производстве. 1. Система и алгоритмы реализации для различных категорий изделий = Prediction analysis of the microcircuits’ radiation hardness within fabrication process. 1. System and its implementation algorithms for various product categories / Ю. М. Московская, Д. В. Бойченко. — 1 файл (624 Кб). — (Элементы интегральной электроники). — DOI 10.24151/1561-5405-2023-28-2-189-201. — Текст: электронный // Известия высших учебных заведений. Электроника = Proceedings of universities. Electronics: научно-технический журнал. – 2023. – С. 189-201. — Загл. с титул. экрана. — Список литературы представлен на русском и английском языках. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://elibrary.ru/item.asp?id=50767477>.
| Период | Чтение | Печать | Копирование | Открытие | Итого |
|---|---|---|---|---|---|
| Год 2023 | 0 | 0 | 0 | 9 | 9 |
| Год 2024 | 0 | 0 | 0 | 123 | 123 |
| Всего | 0 | 0 | 0 | 132 | 132 |