Статистика использования

Технология герметизации МЭМС на уровне пластины на базе SLID-структур, выращенных из электролитов на основе металлоорганических комплексов Cu-Sn = The MEMS wafer-level sealing technology based on SLID structures grown from Cu-Sn organometallic complexes electrolytes / А. Б. Грабов, Д. Д. Рискин, С. Ю. Суздальцев [и др.]. — 1 файл (1,25 Мб). — (Микро- и наносистемная техника). — DOI 10.24151/1561-5405-2023-28-4-461-470. — Текст: электронный // Известия высших учебных заведений. Электроника = Proceedings of universities. Electronics: научно-технический журнал. – 2023. – С. 461-470. — Загл. с титул. экрана. — Список литературы представлен на русском и английском языках. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://www.elibrary.ru/item.asp?id=54314948>.

stat
Период Чтение Печать Копирование Открытие Итого
Год 2023 Квартал 3 Сентябрь 0 0 0 6 6
Квартал 4 Октябрь 0 0 0 1 1
Ноябрь 0 0 0 4 4
Декабрь 0 0 0 1 1
Год 2024 Квартал 1 Январь 0 0 0 0 0
Февраль 0 0 0 1 1
Март 0 0 0 1 1
Квартал 2 Апрель 0 0 0 1 1
Май 0 0 0 0 0
Июнь 0 0 0 0 0
Квартал 3 Июль 0 0 0 1 1
Всего 0 0 0 16 16