Fujiwara, Hideo. Logic testing and design for testability / Hideo Fujiwara. — Cambridge, Massachusetts; London, England: MIT Press, 1985. — 1 PDF (x, 284 p.): ill. — (Computer systems series). — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать). — Mode of access: World Wide Web. — <URL:https://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6267264>. — Текст: электронный
|
Период
|
Чтение
|
Печать
|
Копирование
|
Открытие
|
Итого
|
|
Вчера
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
|
Последние 30 дней
|
0
|
0
|
0
|
1
|
1
|
|
Последние 365 дней
|
0
|
0
|
0
|
11
|
11
|
|
За все время
|
0
|
0
|
0
|
21
|
21
|
