Статистика использования

Talanin, (Vitaliĭ Igorʹevich),. The formation of structural imperfections in semiconductor silicon / by V. I. Talanin and I. E. Talanin. — 1 online resource (xii, 269 pages) : illustrations. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — <URL:https://elib.spbstu.ru/ebsco/pdf/1986604.pdf>. — Текст: электронный

stat
Период Чтение Печать Копирование Открытие Итого
Вчера 0 0 0 0 0
Последние 30 дней 0 0 0 0 0
Последние 365 дней 0 0 0 0 0
За все время 0 0 0 0 0