Details
| Title | Автоматизация исследований температурных зависимостей электрооптических параметров мезогенов = Automating the investigation of temperature-dependent electro-optical parameters of mesogenes // Инженерная физика. – 2024. – № 10. — С. 11-18 |
|---|---|
| Creators | Чекулаев И. С. ; Паращук Н. С. ; Курилов А. Д. ; Трубин А. Е. ; Буланова Т. А. ; Буланов В. А. ; Кузьмин М. К. ; Чаусов Д. Н. |
| Imprint | 2024 |
| Collection | Общая коллекция |
| Subjects | Физика ; Физическая оптика ; мезогены ; параметры мезогенов ; электрооптические параметры ; температурные зависимости ; автоматизация исследований ; программное обеспечение ; mesogens ; mesogen parameters ; electro-optical parameters ; temperature dependencies ; automation of research ; software |
| UDC | 535.2/3 |
| LBC | 22.343 |
| Document type | Article, report |
| Language | Russian |
| DOI | 10.25791/infizik.10.2024.1428 |
| Rights | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение) |
| Record key | RU\SPSTU\edoc\74832 |
| Record create date | 12/12/2024 |
Разработано программное обеспечение для автоматизации процесса измерения электрооптических параметров мезогенов в широком диапазоне температур и длин волн. Реализована автоматическая статистическая обработка вольт-контрастных характеристик мезогенов для определения дисперсии анизотропии показателя преломления и порогового напряжения Фредерикса. Разработанное программное обеспечение, за счёт исключения оператора из процесса измерения, позволяет сократить затрачиваемое время на измерение в 5 раз, а также снизить погрешность определения электрооптических параметров до 2 %.
Software has been developed to automatically measure the electro-optical properties of mesogenic materials over a wide range of temperatures and wavelengths. This software uses automatic statistical analysis of voltage-contrast data to determine the anisotropy dispersion of the refractive index and Fredericks's threshold voltage of mesogens. By eliminating the need for manual intervention in the measurement process, the developed software reduces measurement time by up to five times, while also reducing errors in electro-optical parameter determination by up to 2 %.
