Details
| Title | Формирование четвертьволновой фазовой пластинки в объеме плавленого кварца методом фемтосекундной лазерной записи // Оптика и спектроскопия. – 2026. – Т. 134, № 2. — С. 163-169 |
|---|---|
| Creators | Данилов П. А. ; Красин Г. К. ; Рупасов А. Е. ; Горевой А. В. ; Ковалев М. С. ; Мушкарина И. Н. ; Комшин А. С. ; Кудряшов С. И. |
| Imprint | 2026 |
| Collection | Общая коллекция |
| Subjects | Физика ; Физическая оптика ; фазовые пластинки ; четвертьволновые фазовые пластинки ; плавленый кварц ; лазерные записи ; фемтосекундные лазерные записи ; микрооптические элементы ; филаментация ; ультракороткие лазерные импульсы |
| UDC | 535.2/3 |
| LBC | 22.343 |
| Document type | Article, report |
| Language | Russian |
| DOI | 10.61011/OS.2026.02.62692.8687-25 |
| Rights | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение) |
| Additionally | New arrival |
| Record key | RU\SPSTU\edoc\78589 |
| Record create date | 4/6/2026 |
Методом прямой лазерной записи фемтосекундными импульсами внутри пластины плавленого кварца сформирован трехмерный микрооптический элемент, работающий как четвертьволновая фазовая пластинка на длине волны 633 nm. Показано, что индуцированное двулучепреломление (delta n~3*10{-4}) обусловлено формированием анизотропной модификации, сопровождающейся генерацией кислородно-дефицитных и немостиковых кислородно-дырочных дефектных центров. Спектроскопия фотолюминесценции и комбинационного рассеяния света подтвердила равномерное распределение дефектов по модифицированной области и локальную перестройку аморфной матрицы SiO[2]. Установлено высокое пропускание (60-80%) в диапазоне 600-1100 nm и высокие потери в УФ видимом диапазоне, обусловленные рассеянием света. Показано, что положение области максимальной модификации смещено относительно геометрической фокальной плоскости вследствие нелинейного эффекта самофокусировки, что подтверждено количественной оценкой положения нелинейного фокуса. Полученные результаты демонстрируют возможность создания функциональных поляризационных элементов в объеме диэлектриков с контролируемыми оптическими и структурными свойствами.
