Details
| Title | Водородные дефекты в алмазах: исследование и определение содержания N[3]H с использованием масс-спектрометрии вторичных ионов и инфракрасной спектроскопии // Оптика и спектроскопия. – 2025. – Т. 133, № 6. — С. 626-636 |
|---|---|
| Creators | Шилобреева С. Н. ; Хмельницкий Р. А. ; Бер Б. Я. ; Казанцев Д. Ю. ; Дравин В. А. ; Прокофьев В. Ю. ; Тарелкин С. А. ; Токарев М. В. |
| Imprint | 2025 |
| Collection | Общая коллекция |
| Subjects | Физика ; Спектроскопия ; инфракрасная спектроскопия ; масс-спектрометрия вторичных ионов ; вторичные ионы ; водородные дефекты ; алмазные дефекты ; природные алмазы ; кристаллические структуры ; поглощение инфракрасного излучения |
| UDC | 537.33 |
| LBC | 22.344 |
| Document type | Article, report |
| Language | Russian |
| DOI | 10.61011/OS.2025.06.60914.7571-25 |
| Rights | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение) |
| Record key | RU\SPSTU\edoc\77405 |
| Record create date | 11/17/2025 |
Концентрация водорода и дефектов N[3]VH в природных алмазах определены с помощью методов масс-спектрометрии вторичных ионов (МСВИ) и инфракрасной (ИК) спектроскопии. Предложена методика определения концентрации водорода за счёт создания образцов сравнения непосредственно в исследуемых образцах путём прямой имплантации водорода. Установлена линейная зависимость между поглощением ИК излучения линии колебательной моды 3107 cm{-1} и определённой по МСВИ концентрацией водорода: C[H]=S{*}[N3VH]I[3107], где S{*}[N3VH]=(2.15+/- 1.44) * 10{17}cm{-1}. Описаны основные содержащие водород дефекты в алмазах.
...
