Details

Title Максимизация чувствительности тонкопленочных металлодиэлектрических рефрактометров // Оптика и спектроскопия. – 2025. – Т. 133, № 8. — С. 896-906
Creators Сотский А. Б. ; Понкратов Д. В. ; Чудаков Е. А. ; Сотская Л. И.
Imprint 2025
Collection Общая коллекция
Subjects Физика ; Экспериментальные методы и аппаратура оптики ; оптические сенсоры ; металлодиэлектрические рефрактометры ; тонкопленочные рефрактометры ; чувствительность рефрактометров ; аномальные скин-эффекты ; нулевое отражение света ; отражательная способность рефрактометров ; характеристические матрицы пленок
UDC 681.7
LBC 22.341
Document type Article, report
Language Russian
DOI 10.61011/OS.2025.08.61517.7357-25
Rights Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)
Record key RU\SPSTU\edoc\77471
Record create date 11/21/2025

Allowed Actions

View

Разработана техника расчета отражательной способности рефрактометров с тонкопленочной металлодиэлектрической структурой на основании призмы связи, основанная на перемножении характеристических матриц пленок. Характеристические матрицы металлических пленок находятся путем численного решения интегральных уравнений аномального скин-эффекта. Исследованы спектроскопические рефрактометры со структурой призма связи-золотая пленка-диэлектрическая пленка-вода с контролируемым показателем преломления. В качестве материалов призмы связи и диэлектрической пленки выбран плавленый кварц. Диэлектрическая проницаемость ионного остова золота и константы электронного газа в золотых пленках определены из литературных данных по спектральной эллипсометрии золотых пленок. Установлено, что за счет выбора толщин металлической и диэлектрической пленок, а также угла падения света можно сочетать два фактора, ведущих к максимизации чувствительности рефрактометров - нулевое отражение света от основания призмы связи и возбуждение в диэлектрической пленке волноводной моды, находящейся в условиях, близких к критическим. При использовании волн s-поляризации это позволяет поднять чувствительность рефрактометра до 9.6*105 nm/RIU. Представлены оценки разрешающей способности тонкопленочных металлодиэлектрических рефрактометров, основанные на методе наименьших квадратов.

Access count: 46 
Last 30 days: 11

Detailed usage statistics