Details
| Title | Максимизация чувствительности тонкопленочных металлодиэлектрических рефрактометров // Оптика и спектроскопия. – 2025. – Т. 133, № 8. — С. 896-906 |
|---|---|
| Creators | Сотский А. Б. ; Понкратов Д. В. ; Чудаков Е. А. ; Сотская Л. И. |
| Imprint | 2025 |
| Collection | Общая коллекция |
| Subjects | Физика ; Экспериментальные методы и аппаратура оптики ; оптические сенсоры ; металлодиэлектрические рефрактометры ; тонкопленочные рефрактометры ; чувствительность рефрактометров ; аномальные скин-эффекты ; нулевое отражение света ; отражательная способность рефрактометров ; характеристические матрицы пленок |
| UDC | 681.7 |
| LBC | 22.341 |
| Document type | Article, report |
| Language | Russian |
| DOI | 10.61011/OS.2025.08.61517.7357-25 |
| Rights | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение) |
| Record key | RU\SPSTU\edoc\77471 |
| Record create date | 11/21/2025 |
Разработана техника расчета отражательной способности рефрактометров с тонкопленочной металлодиэлектрической структурой на основании призмы связи, основанная на перемножении характеристических матриц пленок. Характеристические матрицы металлических пленок находятся путем численного решения интегральных уравнений аномального скин-эффекта. Исследованы спектроскопические рефрактометры со структурой призма связи-золотая пленка-диэлектрическая пленка-вода с контролируемым показателем преломления. В качестве материалов призмы связи и диэлектрической пленки выбран плавленый кварц. Диэлектрическая проницаемость ионного остова золота и константы электронного газа в золотых пленках определены из литературных данных по спектральной эллипсометрии золотых пленок. Установлено, что за счет выбора толщин металлической и диэлектрической пленок, а также угла падения света можно сочетать два фактора, ведущих к максимизации чувствительности рефрактометров - нулевое отражение света от основания призмы связи и возбуждение в диэлектрической пленке волноводной моды, находящейся в условиях, близких к критическим. При использовании волн s-поляризации это позволяет поднять чувствительность рефрактометра до 9.6*105 nm/RIU. Представлены оценки разрешающей способности тонкопленочных металлодиэлектрических рефрактометров, основанные на методе наименьших квадратов.
Access count: 46
Last 30 days: 11