Electronic Documents Search

Documents found: 1

1

Анализ оптических свойств массива полусферических наночастиц Ag на поверхности SiO[2]/c-Si методом спектральной эллипсометрии // Оптика и спектроскопия. – 2024. – Т. 132, № 7. — С. 779-785

Creators	Ермина А. А.; Большаков В. О.; Пригода К. В.; Толмачев В. А.; Грудинкин С. А.; Жарова Ю. А.
Imprint	2024
Collection	Общая коллекция
Subjects	Физика; Оптические свойства твердых тел; полусферические наночастицы; оптические свойства; спектральная эллипсометрия; кремний; поверхностный плазмонный резонанс; модель Друде; Друде модель; термическая обработка
UDC	539.21:535
LBC	22.374
Document type	Article, report
File type	Other
Language	Russian
DOI	10.61011/OS.2024.07.58903.6515-24
Rights	Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)

https://elibrary.ru/item.asp?id=72852903

1