Electronic Documents Search

Documents found: 1

1

Возможность применения спектроскопии комбинационного рассеяния света для оценки толщины интерфейсного слоя в сверхрешетках AlN/GaN // Научно-технические ведомости Санкт-Петербургского государственного политехнического университета. Сер.: Физико-математические науки: научное издание. – 2016. – № 2 (242)

Creators	Панькин Дмитрий Васильевич; Смирнов Михаил Борисович
Organization	Санкт-Петербургский государственный университет; Министерство образования и науки Российской Федерации
Imprint	Санкт-Петербург: Изд-во Политехн. ун-та, 2016
Collection	Общая коллекция
Subjects	Физика; Физика твердого тела. Кристаллография в целом; спектроскопия; рассеяние света; нитридные сверхрешетки; интерфейсные слои; полярные фононы; диэлектрический континуум; твердые растворы; слабоинтенсивные моды; комбинационное рассеяние света; вековые уравнения (математика); короткопериодные пределы; бинарные структуры; кристаллические нитриды
UDC	539.2
LBC	22.37
Document type	Article, report
File type	PDF
Language	Russian
DOI	10.5862/JPM.242.3
Rights	Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование)

pdf, 0.7 Mb

1