Барышникова, Анна Алексеевна. Использование методов атомно-силовой микроскопии для контроля качества поверхности [Электронный ресурс]: бакалаврская работа / А. А. Барышникова; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций, Физической электроники. — Электрон. текстовые дан. (1 файл : 854 КБ). — Санкт-Петербург, 2015. — Загл. с титул. экрана. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — Adobe Acrobat Reader 7.0. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/2/6908.pdf>.