| Карточка | Таблица | RUSMARC | |
|
|
Школдин, Виталий Алексеевич. Исследование полупроводниковых структур по глубине методом катодолюминесценции [Электронный ресурс]: бакалаврская работа / В. А. Школдин; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций, Физической электроники. — Электрон. текстовые дан. (1 файл : 2,45 МБ). — Санкт-Петербург, 2015. — Загл. с титул. экрана. — Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — Adobe Acrobat Reader 7.0. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/2/6932.pdf>.Дата создания записи: 17.09.2015 Коллекции: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция Разрешенные действия: Прочитать Загрузить (2,5 Мб) Для чтения документа необходим Flash Player Группа: Анонимные пользователи Сеть: Интернет |
Аннотация
Представлено исследование по глубине структуры, состоящей из слоя 3C-SiC на подложке 6H-SiC методом катодолюминесценции (КЛ). Показано наличие направленной диффузии электронно-дырочных пар из подложки с более широкой шириной запрещенной зоны в слой с более узкой шириной запрещенной зоной.
Права на использование объекта хранения
| Место доступа | Группа пользователей | Действие | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Локальная сеть ИБК СПбПУ | Все |
|
||||
|
Интернет | Все |
|
Статистика использования документа
|
|
Количество обращений: 595
За последние 30 дней: 6 Подробная статистика |