Details

Исследование закономерностей деградации контактных узлов металлопленочных конденсаторов [Электронный ресурс] / В. О. Белько [и др.]. — Электрон. текстовые дан. (1 файл : 624 КБ) // Научно-технические ведомости СПбГПУ, 2016. – № 4 (254) [Электронный ресурс]. — Загл. с титул. экрана. — Электронная версия печатной публикации. — Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — Текстовый файл. — Adobe Acrobat Reader 7.0. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/2/j17-183.pdf>. — <URL:http://doi.org/10.5862/JEST.254.8>.

Record create date: 4/26/2017

Subject: Энергетика; Конденсаторы; металлопленочные конденсаторы; контактные узлы; деградация контактных узлов; закономерности деградации (электротехника); полярные эффекты (электротехника); электродинамические разрушения узлов; импульсные токи; металлизация; эрозия металлизации; скорость эрозии; отрицательные импульсы тока

UDC: 621.319.4

LBC: 31.264.6

Collections: Общая коллекция

Links: DOI

Allowed Actions: Read Download (0.6 Mb) You need Flash Player to read document

Group: Anonymous

Network: Internet

Annotation

При работе металлопленочных конденсаторов в импульсном режиме разрушение контактного узла является основной причиной выхода их из строя. Разработана методика экспериментального моделирования электродинамического разрушения контактных узлов металлопленочных конденсаторов. Проведены эксперименты по изучению закономерностей их разрушения при воздействии импульсов тока различной амплитуды и длительности положительной и отрицательной полярностей. Установлено, что вероятность разрушения контактного узла описывается нормальным законом распределения. Определены зависимости времени жизни контактного узла от энергии импульса тока и получен степенной закон старения. Обнаружен полярный эффект разрушения контактов: время жизни меньше при воздействии отрицательных импульсов тока. Определена скорость эрозии металлизации в контактном узле.

Metallized film capacitors are widely used in modern equipment. When this type of capacitors work in pulse mode, electrode contact destruction is the main reason of failure. Therefore, an experimental method for modeling the electrodynamic destruction of electrode contacts of a metallized film capacitor was developed. The experiments for investigating the destruction regularities due to the impact of current pulses with different amplitude and polarity were done. It was determined, that the probability of electrode contact failure is described by the normal distribution law. The dependences of electrode contacts lifetime versus current pulse energy were determined and a power law of aging was obtained. The polarity effect of contact destruction was found: the lifetime is less under impact of negative current pulses. The erosion velocity of metallization in electrode contact was calculated.

Document access rights

Network User group Action
FL SPbPU Local Network All Read Print Download
-> Internet All Read Print Download

Document usage statistics

stat Document access count: 203
Last 30 days: 1
Detailed usage statistics