Методом рентгеновской рефлектометрии проведено исследование величины пористости и морфологии поверхности пленок Pb[0,97]Sn[0,03]Se на кремниевых подложках, подвергнутых анодному электрохимическому травлению в электролите Томпкинса - Джонсона при плотности тока 1 мА/см{2}. Установлено, что при электрохимическом травлении формируется макропористая структура с поперечными и продольными проекциями пор размерами 47 и 82 нм соответственно. Определен угол наклона пор к нормали поверхности; он составил 34,5 град. Показаны возможности применения рентгеновских методов высокого разрешения для неразрушающего исследования структуры пористых материалов.

The porosity and surface morphology of Pb [0.97] Sn [0.03] Se films on silicon substrates subjected to anodic electrochemical etching in a Tompkins-Johnson electrolyte at a current density of 1 mA / cm{2} were studied by X-ray reflectometry. It was found that electrochemical etching formed a macroporous structure with transverse and longitudinal pore projections of 47 and 82 nm, respectively. The angle of inclination of the pores to the normal of the surface is determined; it was 34.5 degrees. The possibilities of using high-resolution x-ray methods for nondestructive investigation of the structure of porous materials are shown.

Научно-технические ведомости Санкт-Петербургского государственного политехнического университета. Сер.: Физико-математические науки = St. Petersburg state polytechnical university journal. Physics and mathematics: научное издание / Министерство образования и науки Российской Федерации. Т. 11, № 1 [Электронный ресурс]. — Электрон. текстовые дан. (1 файл : 9,29 Мб). — Санкт-Петербург: Изд-во Политехн. ун-та, 2018. — Загл. с титул. экрана. — Электронная версия печатной публикации. — Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — Текстовый документ. — Adobe Acrobat Reader 7.0. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/2/j18-254.pdf>.