Таблица | Карточка | RUSMARC | |
Разрешенные действия: Прочитать Загрузить (1,7 Мб) Группа: Анонимные пользователи Сеть: Интернет |
Аннотация
В данной работе предложена автоматизированная методика испытаний металлопленочных конденсаторов. Для реализации методики была разработана экспериментальная установка и разработано программное обеспечение для обработки полученных данных. Согласно предложенной методике были исследованы ПЭТФ и ПП конденсаторы различной конструкции и определены условия их отказов при работе в режимах с высокой электрической нагрузкой. Установлено, что в конденсаторах со сплошной металлизацией наблюдался параметрический отказ, связанный с ростом диэлектрических потерь или катастрофический отказ, обусловленный коротким замыканием обкладок. Параметрический отказ конденсаторов с сегментированной металлизацией связан со значительным снижением емкости вследствие интенсивного уменьшения площади электродов. Предложенный метод испытаний позволяет проводить "мягкую" тренировку конденсаторов для увеличения их энергоэффективности за счет повышения рабочей напряженности электрического поля.
In this paper the automated ramp voltage test method for metallized film capacitors was suggested. This method was used to investigate the causes of capacitors failure under high electric load. For this purpose, experimental setup and software for experimental data processing were developed. The experimental investigation method was based on high voltage testing of different metallized film capacitor types. It was found that in the case of high electric load, capacitors failure is related to dielectric resistance decreasing due to multiple breakdown events. The conditions of parametric and catastrophic failures of the tested capacitors were revealed. The suggested test method also allows “soft” treatment of metallized film capacitors.
Права на использование объекта хранения
Входит в состав
Статистика использования
Количество обращений: 76
За последние 30 дней: 9 Подробная статистика |