Исследованы закономерности эволюции разориентированной структуры и кристаллографической текстуры поликристаллов в процессе пластической деформации. Изучено влияние кристаллографической текстуры и ориентационно-зависимых внутренних напряжений на результаты рентгеновской тензометрии.Разработаны методы количественного анализа фрагментированной структуры на базе данных, полученных с помощью дифракции обратно рассеянных электронов. Установлены закономерности эволюции разориентировок кристаллической решетки на границах деформационного происхождения.