В лекциях рассматриваются понятия: стереографические проекции элементов симметрии, гномостереографические проекции граней многогранников, атомные плоскости в кристаллах, плотнейшие кубическая и гексагональная упаковки, координационные многогранники, дифракция рентгеновских лучей, уравнение Брэгга-Вульфа, рентгенофазовый анализ, метод Дебая-Шерера, индексы интерференции, индицирование дифрактограммы, влияние структурного типа на вид рентгенограммы порошка. Приведены примеры анализа структур.