Обоснована возможность использования основных представлений физико-химического анализа гомогенных жидких систем для изучения химической структуры стеклообразных систем. Последнее является принципиально важным при разработке технологических основ целенаправленного получения аморфных материалов с заданным комплексом свойств. Разработан новый структурно-чувствительный метод физико-химического анализа (резонансная инфракрасная диэлькометрия). Теоретически обоснован иммерсионный метод измерения, диэлектрической проницаемости и определены границы его применимости; предложен новый метод измерения диэлектрической проницаемости у веществ с большими потерями. Разработан метод определения статической оптической диэлектрической проницаемости у материалов, прозрачных в ИК-области. Построена таблица мольных рефракций элементов, входящих в состав халькогенидных стекол, которая позволяет рассчитывать показатель преломления по их составу. Предложен метод определения критических концентраций примеси d-элементов, приводящих к появлению в стекле кристаллических включений (гетерогенная релаксационная диэлькометрия). Издание предназначено для студентов, аспирантов и научных сотрудников, изучающих полупроводниковое материаловедение, а также особенности стеклообразного состояния материи.

Печатается по решению редакционно-издательского совета Санкт-Петербургского государственного политехнического университета.

• Содержание
• 1. Введение
• 2. Проблемы физико-химического анализа стеклообразных систем
• 3. Теоретические основы диэлькометрии
• 4. Теоретические основы эксперимента
• 5. Изучение зависимости в халькогенидных стеклах
• 6. Бинарные халькогенидные системы
• 7. Квазибинарные халькогенидные системы
• 8. Халькогенидные системы смешанного типа
• 9. Заключение и выводы
• 10. Список литературы