Таблица | Карточка | RUSMARC | |
Разрешенные действия: –
Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Группа: Анонимные пользователи Сеть: Интернет |
Аннотация
Работа заключалась в комплексном исследовании процесса медленной деградации трех гетероструктур на основе A²B⁶, которые перспективны для создания лазеров в сине-зеленом спектральном диапазоне. Гетероструктуры представляли собой толстые пленки ZnSe и ZnCdSe выращенные на подложке GaAs. Исследование проводилось методами катодолюминесценции, просвечивающей электронной микроскопии и рентгенодифракционного фазового анализа. Оценивались такие параметры как: геометрические размеры и состав слоев, структурное совершенство, устойчивость к деградационным процессам.
Права на использование объекта хранения
Место доступа | Группа пользователей | Действие | ||||
---|---|---|---|---|---|---|
Локальная сеть ИБК СПбПУ | Все | |||||
Интернет | Авторизованные пользователи СПбПУ | |||||
Интернет | Анонимные пользователи |
Оглавление
- Диссертация допущена к защите
- Д И С С Е Р Т А Ц И Я
- М А Г И С Т Р А
- Направление: 16.04.01 – «Техническая физика»
- Магистерская программа: «Физика и техника полупроводников»
- Введение
- Свойства материалов
- Общие свойства соединений A2B6
- Свойства твердых растворов А2В6
- Методы роста пленок и гетероструктур A2B6 и их особенности
- Дефекты
- Точечные дефекты
- Линейные дефекты
- Двумерные дефекты
- Деградация
- Общие сведения о деградации лазерных структур
- Катастрофическая оптическая деградация
- Образование «дефектов темных линий» (ДТЛ).
- Медленная деградация (МД)
- Свойства материалов
- Методы исследования и образцы
- Метод катодолюминесценции
- Общие сведения о методекатодолюминесценции
- КЛ установка
- Катодолюминесценция толстых пленок
- Методика исследования точечных дефектов
- Исследование многослойных гетероструктур
- Метод рентгенодифракционного фазового анализа(РДФА)
- Метод просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ)
- Образцы и приборы
- Метод катодолюминесценции
- Результаты и обсуждение
- 3.1. Результаты РДФА
- 3.2. Результаты ПЭМ
- 3.2.1. Результаты ПЭМ до модификации
- 3.2.2. Модификация в ПЭМ 688 образца – ZnSe/GaAs
- 3.2.3. Модификация в ПЭМ 713 образца – ZnCdSe/GaAs
- Результаты КЛ
- Модификация пленок под воздействием электронного пучка
- КЛ исследования 688 образца – ZnSe/GaAs
- КЛ исследования 707 образца – ZnСdSe/GaAs
- КЛ исследования 713 образца – ZnСdSe/GaAs
- Обсуждение некоторых результатов модификации КЛ
- Выводы
- Благодарности
- Список литературы
Статистика использования
Количество обращений: 588
За последние 30 дней: 0 Подробная статистика |