Details

Title: Разработка системы подсчета чип-компонентов пассивных электронных компонентных баз: выпускная квалификационная работа бакалавра: 09.03.04 - Программная инженерия ; 09.03.04_01 - Технологии разработки и сопровождения качественного программного продукта
Creators: Барыев Дмитрий Викторович
Scientific adviser: Воинов Никита Владимирович
Organization: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт компьютерных наук и технологий
Imprint: Санкт-Петербург, 2018
Collection: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Subjects: компьютерное зрение; чип-компоненты; распознавание; RESTful API; интернет-вещей
Document type: Bachelor graduation qualification work
File type: PDF
Language: Russian
Level of education: Bachelor
Speciality code (FGOS): 09.03.04
Speciality group (FGOS): 090000 - Информатика и вычислительная техника
Links: Отзыв руководителя
DOI: 10.18720/SPBPU/2/v18-1332
Rights: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Record key: RU\SPSTU\edoc\54064

Allowed Actions:

Action 'Read' will be available if you login or access site from another network Action 'Download' will be available if you login or access site from another network

Group: Anonymous

Network: Internet

Annotation

В данной работе реализована система машинного зрения, способная оп-ределять число чип-компонентов на изображении. Проведен анализ сущест-вующих решений для подсчета изделий. На языке C# реализован многоступен-чатый итеративный алгоритм обработки изображений, позволяющий опознавать и производить подсчет объектов на равномерном фоне. Создано WPF-приложение для интерактивного доступа к системе. Проведено исследование полученного решения. Прирост скорости подсчета чип-компонентов по сравне-нию с ручным подходом достигает десятка раз.

Document access rights

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All Read Print Download
Internet Authorized users SPbPU Read Print Download
-> Internet Anonymous

Usage statistics

stat Access count: 209
Last 30 days: 0
Detailed usage statistics