Детальная информация

Фролов, Дмитрий Александрович. Электронный парамагнитный резонанс в селениде ртути, легированном переходными металлами [Электронный ресурс]: выпускная квалификационная работа магистра: 11.04.04 - Электроника и наноэлектроника ; 11.04.04_01 - Микроэлектроника и наноэлектроника / Д. А. Фролов; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций ; науч. рук.: И. Б. Захарова, А. И. Вейнгер. — Электрон. текстовые дан. (1 файл : 3,02 Мб). — Санкт-Петербург, 2018. — Загл. с титул. экрана. — Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — Adobe Acrobat Reader 7.0. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/2/v18-1820.pdf>. — <URL:http://doi.org/10.18720/SPBPU/2/v18-1820>. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/2/rev/v18-1820-o.pdf>. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/2/rev/v18-1820-r.pdf>.

Дата создания записи: 16.10.2018

Тематика: Электронный парамагнитный резонанс; Ртуть, селенид; Магнитное поле; Металлы переходные

УДК: 537.635:537.611.43

Коллекции: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция

Ссылки: DOI; Отзыв руководителя; Рецензия

Разрешенные действия: Прочитать Загрузить (3,0 Мб) Для чтения документа необходим Flash Player

Группа: Анонимные пользователи

Сеть: Локальная сеть ИБК СПбПУ

Аннотация

Целью данной работы является сравнительный анализ температурных и угловых зависимостей в спектрах электронного парамагнитного резонанса образцов HgSe:Fe, HgSe:CoиHgSe:Ni с различными концентрациями легирующей примеси. Были получены спектры электронного парамагнитного резонанса, значения энергии взаимодействия с полем кристаллической решётки и значенияg-фактора, выполнен анализ температурной зависимости амплитуды линий ЭПР и оценка времени диффузии носителей заряда через скин-слой. Сделаны выводы о степени ионизации примесных ионов.

Права на использование объекта хранения

Место доступа Группа пользователей Действие
-> Локальная сеть ИБК СПбПУ Все Прочитать Печать Загрузить
Интернет Все Прочитать Печать Загрузить

Статистика использования документа

stat Количество обращений: 0
За последние 30 дней: 0
Подробная статистика