Table | Card | RUSMARC | |
Allowed Actions: –
Action 'Read' will be available if you login or access site from another network
Action 'Download' will be available if you login or access site from another network
Group: Anonymous Network: Internet |
Annotation
В работе рассмотрено моделирование процесса наноиндентирования железа и его сплава методами молекулярной динамики. Описаны особенности метода наноиндентирования и основные принципы метода молекулярной динамики. Исследованы эффекты наличия радиационных дефектов в кристалле на упругие характеристики при наноиндентировании такие, как твердость и модуль Юнга. Проведен анализ эволюции микроструктуры приповерхностных слоев модельных боксов при нагрузках. Построены диаграммы деформирования для бездефектного кристалла железа на основе распределения напряжений в приповерхностных слоях кристалла под индентором.
Document access rights
Network | User group | Action | ||||
---|---|---|---|---|---|---|
ILC SPbPU Local Network | All | |||||
Internet | Authorized users SPbPU | |||||
Internet | Anonymous |
Table of Contents
- ПО ВЫПОЛНЕНИЮ ВЫПУСКНОЙ КВАЛИФИКАЦИОННОЙ РАБОТЫ
- ОБОЗНАЧЕНИЯ И СОКРАЩЕНИЯ
- ВВЕДЕНИЕ
- ГЛАВА 1. МЕТОД НАНОИДЕНТИРОВАНИЯ
- 1.1. Значение и применение метода наноиндентирования в современной науке
- 1.2. Механика контакта
- 1.2.1. Упругопластическое распределение напряжений
- 1.2.2. Теории определения твердости
- 1.2.3. Индентирование на нанометровом масштабе
- 1.3. Типы инденторов
- 1.4. Кривые нагрузка-смещение
- ГЛАВА 2. МЕТОД МОЛЕКУЛЯРНОЙ ДИНАМИКИ
- 2.1. Межатомные потенциалы
- 2.1.1. Энергия когезии и парные потенциалы
- 2.1.2. Потенциалы железа и сплавов
- 2.2. Метод молекулярной динамики
- 2.1. Межатомные потенциалы
- ГЛАВА 3. РЕЗУЛЬТАТЫ
- 3.1. Влияние входных параметров на моделирование
- 3.2. Моделирование дефектных кристаллов
- 3.3. Связь напряжения и деформации наноиндентирования
- ЗАКЛЮЧЕНИЕ
- СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННОЙ ЛИТЕРАТУРЫ
- ПРИЛОЖЕНИЕ 1. ВХОДНОЙ СКРИПТ
- ПРИЛОЖЕНИЕ 2. КОД ДЛЯ ВСТАВКИ РАДИАЦИОННЫХ ДЕФЕКТОВ
Usage statistics
Access count: 55
Last 30 days: 0 Detailed usage statistics |