?

Details
Table Card RUSMARC
Title: Микроконтроллерное устройство для снятия вольт – амперных характеристик полупроводниковых структур в области малых токов: выпускная квалификационная работа бакалавра: 11.03.04 - Электроника и наноэлектроника ; 11.03.04_04 - Микроэлектроника и твердотельная электроника
Creators: Броников Егор Витальевич
Scientific adviser: Груздев Александр Станиславович
Organization: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Imprint: Санкт-Петербург, 2019
Collection: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Subjects: полупроводниквые структуры; тонкие пленки; измерение параметров полупроводниковых структур; микроконтроллерное устройство; semiconductor structures; thin films; measurement of parameters of semiconductor structures; microcontroller device
Document type: Bachelor graduation qualification work
File type: PDF
Language: Russian
Level of education: Bachelor
Speciality code (FGOS): 11.03.04
Speciality group (FGOS): 110000 - Электроника, радиотехника и системы связи
Links: Отзыв руководителя; Отчет о проверке на объем и корректность внешних заимствований
DOI: 10.18720/SPBPU/3/2019/vr/vr19-2443
Rights: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Record key: ru\spstu\vkr\1323

Allowed Actions: –

Action 'Read' will be available if you login or access site from another network Action 'Download' will be available if you login or access site from another network

Group: Anonymous

Network: Internet

Annotation

Тонкие пленки, методы измерения свойств тонких пленок, разработка устройства на базе микроконтроллера STM-32 для снятия вольт - амперных характеристики удельного электрического сопротивления тонких пленок. Была проанализирована литература по различным полупроводниковым структурам (пленкам). Рассмотрены различные контактные и бесконтактные методы измерения параметров пленок, из которых был выбран контактный двухзондовый метод. Было разработано и запрограммировано схемотехническое устройство на базе микроконтроллера STM-32 способное измерять вольт - амперные характеристики и удельную электропроводность образцов.

The thin films, methods for measuring the properties of thin films, development of a device based on the STM-32 microcontroller for removing volt - ampere characteristics, electrical resistivity of thin films thin films with certain characteristics. The literature on various semiconductor structures (films) was analyzed. Various contact and contactless methods for measuring film parameters are considered, from which the contact-dual-probe method was chosen. Next, a circuit device based on an STM-32 microcontroller was developed that is capable of measuring current-voltage characteristics and specific electrical conductivity of samples.

Document access rights

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All Read Print Download
Internet Authorized users SPbPU Read Print Download
-> Internet Anonymous

Usage statistics

stat Access count: 53
Last 30 days: 0
Detailed usage statistics