Детальная информация
| Название | Исследование поверхности эмиссионно-активных тонкопленочных структур методами зондовой микроскопии и спектроскопии: выпускная квалификационная работа бакалавра: 16.03.01 - Техническая физика ; 16.03.01_10 - Физическая и биомедицинская электроника |
|---|---|
| Авторы | Галкина Александра Вячеславовна |
| Научный руководитель | Габдуллин Павел Гарифович |
| Организация | Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций |
| Выходные сведения | Санкт-Петербург, 2019 |
| Коллекция | Выпускные квалификационные работы ; Общая коллекция |
| Тематика | сканирующая туннельная микроскопия ; полевая эмиссия ; тонкие пленки молибдена ; тонкие пленки углерода ; вольт-амперные характеристики туннельного контакта ; фотопроводимость ; scanning tunneling microscopy ; field emission ; thin films of molybdenum ; thin film of carbon ; current-voltage characteristics of a tunneling contact ; photoconductivity |
| Тип документа | Выпускная квалификационная работа бакалавра |
| Тип файла | |
| Язык | Русский |
| Уровень высшего образования | Бакалавриат |
| Код специальности ФГОС | 16.03.01 |
| Группа специальностей ФГОС | 160000 - Физико-технические науки и технологии |
| Ссылки | Отзыв руководителя ; Отчет о проверке на объем и корректность внешних заимствований |
| DOI | 10.18720/SPBPU/3/2019/vr/vr19-3147 |
| Права доступа | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование) |
| Ключ записи | ru\spstu\vkr\2795 |
| Дата создания записи | 04.10.2019 |
Разрешенные действия
–
Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
| Группа | Анонимные пользователи |
|---|---|
| Сеть | Интернет |
В ходе данной работы было проведено изучение топографии поверхности тонких углеродных пленок, а также тонких пленок молибдена. Для тонких пленок молибдена были получены вольт-амперные характеристики разных точках образца, была изучена фоточувствительность островковых структур образца. По данным вольт-амперных характеристик были рассчитаны туннельные спектры.
In the course of this work, surface topography of the thin carbon films and thin molybdenum films was investigated. For thin films of molybdenum, the volt-ampere characteristics of different points of the sample were obtained, and the photosensitivity of islet structures of the sample was studied. According to the current-voltage characteristics, calculations of tunneling spectra were performed.
| Место доступа | Группа пользователей | Действие |
|---|---|---|
| Локальная сеть ИБК СПбПУ | Все |
|
| Интернет | Авторизованные пользователи СПбПУ |
|
| Интернет | Анонимные пользователи |
|
Количество обращений: 46
За последние 30 дней: 0
