Details

Title: Исследование влияния криогенного плазмохимического травления на время жизни неосновных носителей заряда в кремнии: выпускная квалификационная работа бакалавра: 03.03.02 - Физика ; 03.03.02_08 - Физика и технология наноструктур
Creators: Реймерс Серафим Андреевич
Scientific adviser: Липовский Андрей Александрович
Organization: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Imprint: Санкт-Петербург, 2019
Collection: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Subjects: криогенное плазмохимическое травление; солнечный элемент; фотолюминесценция; многопереходный солнечный элемент; травление; отжиг; кремний; эффективность солнечных элементов; время жизни носителей заряда; сryogenic ICP etching; solar element; photoluminescence; multi-junction solar element; etching; annealing; silicon; solar element efficiency; carrier lifetime
Document type: Bachelor graduation qualification work
File type: PDF
Language: Russian
Level of education: Bachelor
Speciality code (FGOS): 03.03.02
Speciality group (FGOS): 030000 - Физика и астрономия
Links: Отзыв руководителя; Отчет о проверке на объем и корректность внешних заимствований
DOI: 10.18720/SPBPU/3/2019/vr/vr19-3863
Rights: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Record key: ru\spstu\vkr\3129

Allowed Actions:

Action 'Read' will be available if you login or access site from another network Action 'Download' will be available if you login or access site from another network

Group: Anonymous

Network: Internet

Annotation

В работе рассматривается одна из возможных методик производства многопреходных солнечных элементов — криогенное плазмохимическое травление. Производится оценка негативных последствий методики — кристаллических дефектов: глубины залегания и возможности устранения с помощью отжига. Для оценки качества образца (времени жизни неосновных носителей заряда) после произведённых манипуляций используется измерение времени спада фотолюминесценции по поверхности образца.

This work discusses one of possible methods for producing multi-junction solar cells — cryogenic ICP etching. The negative effects of the technique were evaluated — crystalline defects: depth and the possibility of elimination by annealing. To assess the quality of the sample (the lifetime of minority charge carriers) after the performed manipulations, the measurement of the photoluminescence decay time along the sample surface is used.

Document access rights

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All Read Print Download
Internet Authorized users SPbPU Read Print Download
-> Internet Anonymous

Table of Contents

  • РЕФЕРАТ
  • СОДЕРЖАНИЕ
  • ВВЕДЕНИЕ
  • ГЛАВА 1. АНАЛИЗ ЛИТЕРАТУРЫ
  • ГЛАВА 2. МЕТОДИКА ЭКСПЕРИМЕНТА
  • ГЛАВА 3. РЕЗУЛЬТАТЫ ЭКСПЕРИМЕНТА И ИХ АНАЛИЗ
  • ЗАКЛЮЧЕНИЕ
  • СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ

Usage statistics

stat Access count: 24
Last 30 days: 0
Detailed usage statistics