Малых, Дмитрий Алексеевич. Исследование графена на поверхности гексагональных политипов SiC методами атомно-силовой микроскопии: выпускная квалификационная работа бакалавра: направление 16.03.01 «Техническая физика» ; образовательная программа 16.03.01_11 «Физика полупроводников и наноэлектроника» = Investigation of graphene on hexagonal SiC polytypes by atomic force microscopy / Д. А. Малых; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Институт электроники и телекоммуникаций; научный руководитель С. А. Рыков; научный руководитель М. С. Дунаевский; консультант по нормоконтролю Т. А. Гаврикова. — Санкт-Петербург, 2022. — 1 файл (0,8 Мб). — Загл. с титул. экрана. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — Adobe Acrobat Reader 7.0. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/3/2022/vr/vr22-963.pdf>. — DOI 10.18720/SPBPU/3/2022/vr/vr22-963. — Текст