Details

Title Исследование методом просвечивающей электронной микроскопии протяжённых дефектов в тонких плёнках фосфида галлия на кремниевых подложках: выпускная квалификационная работа бакалавра: направление 03.03.02 «Физика» ; образовательная программа 03.03.02_08 «Квантовые наноструктуры и материалы»
Creators Быкова Арина Александровна
Scientific adviser Кириленко Демид Александрович
Organization Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Физико-механический институт
Imprint Санкт-Петербург, 2025
Collection Выпускные квалификационные работы ; Общая коллекция
Subjects фосфид галлия ; просвечивающая электронная микроскопия ; молекулярно-пучковая эпитаксия ; дефекты упаковки ; дислокации ; электронная дифракция ; рентгеновская дифрактометрия ; gallium phosphide ; transmission electron microscopy ; molecular beam epitaxy ; stacking faults ; dislocations ; electron diffraction ; X-ray diffractometry
Document type Bachelor graduation qualification work
File type PDF
Language Russian
Level of education Bachelor
Speciality code (FGOS) 03.03.02
Speciality group (FGOS) 030000 - Физика и астрономия
DOI 10.18720/SPBPU/3/2025/vr/vr25-1419
Rights Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Additionally New arrival
Record key ru\spstu\vkr\37006
Record create date 8/28/2025

Allowed Actions

Action 'Read' will be available if you login or access site from another network

Action 'Download' will be available if you login or access site from another network

Group Anonymous
Network Internet

Данная работа посвящена исследованию различий в дефектных структурах слоёв фосфида галлия, в том числе с примесями мышьяка и азота, выращенных методом молекулярно-пучковой эпитаксии при различных режимах роста. Структурные исследования проводились с помощью методов просвечивающей электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, также использовались данные рентгеновской дифрактометрии и фотолюминесценции. Установлено, что увеличение потока азота существенно повышает встраивание мышьяка в слоях GaAsPN. При этом в образцах различного состава наблюдается одинаковая величина тетрагональных искажений решётки.  Обнаружено, что в слое GaAsPN имеется тенденция к исчезновению дефектов упаковки за счёт слияния ограничивающих их частичных дислокаций в полные дислокации. При этом в слое фосфида галлия без примесей наблюдается повторная диссоциация таких дислокаций. Обнаруженные особенности различных структур представляют интерес с точки зрения отработки технологических режимов роста четверных твёрдых растворов такого вида.

The given work is devoted to the study of differences in the defective structures of gallium phosphide layers, including those with arsenic and nitrogen additives, grown by molecular beam epitaxy under various growth modes. Structural studies were carried out using transmission electron microscopy and X-ray spectral microanalysis methods, as well as X-ray diffractometry and photoluminescence data. It was found that an increase in the nitrogen flow significantly increases the incorporation of arsenic in the GaAsPN layers. At the same time, the same magnitude of tetragonal lattice distortions is observed in samples of different compositions. It has been found that there is a tendency for stacking faults to disappear in the GaAsPN layer due to the fusion of their bounding partial dislocations into perfect dislocations. In this case, repeated dissociation of such dislocations is observed in the gallium phosphide layer without additives. The discovered features of various structures are of interest for testing the technological modes of growth of quadruple solid solutions of this type.

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All
Read Print Download
Internet Authorized users SPbPU
Read Print Download
Internet Anonymous

Access count: 1 
Last 30 days: 1

Detailed usage statistics