?

Details
Table Card RUSMARC
Title: Характеризация объемных и тонкопленочных материалов с использованием дифрактометрической системы SuperNova: учебное пособие
Creators: Ганжа Александр Евгеньевич; Удовенко Станислав Александрович; Вакуленко Александр Феликсович; Князева Мария Александровна; Бурковский Роман Георгиевич
Organization: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
Imprint: Санкт-Петербург, 2022
Collection: Учебная и учебно-методическая литература; Общая коллекция
Subjects: Дифракция; Рентгеноструктурный анализ; Кристаллы; Пленки
UDC: 539.26(075.8)
Document type: Tutorial
File type: PDF
Language: Russian
Speciality code (FGOS): 16.03.01
Speciality group (FGOS): 160000 - Физико-технические науки и технологии
DOI: 10.18720/SPBPU/5/tr22-85
Rights: Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Record key: RU\SPSTU\edoc\68194

Allowed Actions: Read Download (2.0 Mb)

Group: Anonymous

Network: Internet

Annotation

В пособии приведены основные формулы кинематической теории рентгеновской дифракции, объяснена основная графическая схема для определения условий отражения излучения от кристаллов, описана дифрактометрическая система SuperNova и подходы к работе с ней при помощи стандартного программного обеспечения. Изложены методические наработки по применению установки для характеризации объемных и тонкопленочных образцов. Уделено внимание нестандартным техническим средствам и подходам, при помощи которых удается расширить спектр решаемых задач по сравнению с теми, на которые ориентируется производитель таких систем. Учебное пособие предназначено для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям «Техническая физика», а также по другим направлениям, в учебных планах которых предусмотрено изучение твердых тел при помощи рентгеновских методов. Материалы учебного пособия могут быть использованы при изучении курса «Экспериментальные методы исследования» студентами старших курсов, а также аспирантами и научными работниками при выполнении научно-исследовательских работ.

Document access rights

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All Read Print Download
-> Internet All Read Print Download

Table of Contents

  • Содержание
  • Введение
  • 1.Основы дифракции
    • 1.1 Краткое объяснение терминов
    • 1.2 Обратная решетка
    • 1.3 Условие Лауэ
    • 1.4 Построение Эвальда
    • 1.5 Уравнение Вульфа-Брэгга
  • 2. Постановка дифракционных экспериментов на оборудовании SuperNova и обработка экспериментальных данных
    • 2.1 Общие сведения о дифракционной системе SuperNova
    • 2.2 Элементы интерфейса и управления в CrysAlisPro
    • 2.3 Запуск эксперимента в CrysAlisPro
    • 2.4 Выбор оптимальных параметров
    • 2.5 Многотемпературный эксперимент
    • 2.6 Базовая обработка эксперимента в CrysAlisPro
  • 3.Практические аспекты постановки экспериментов
    • 3.1 Подготовка образца к эксперименту
    • 3.2 Юстировка тонких пленок в дифрактометре и параметрыэксперимента для них
    • 3.3 Нестандартные устройства для расширения возможностеймноготемпературных экспериментов. Обмен данными междутермоконтроллером и CrysAlisPro
    • 3.4 Кадровая синхронизация
    • 3.5 Подходы к восстановлению и анализу распределенийинтенсивности в обратном пространстве
  • Заключение
  • Литература

Usage statistics

stat Access count: 225
Last 30 days: 13
Detailed usage statistics