Fujiwara, Hideo. Logic testing and design for testability / Hideo Fujiwara. — Cambridge, Massachusetts; London, England: MIT Press, 1985. — 1 PDF (x, 284 p.): ill. — (Computer systems series). — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать). — Mode of access: World Wide Web. — <URL:https://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6267264>. — Текст: электронный
|
Период
|
Чтение
|
Печать
|
Копирование
|
Открытие
|
Итого
|
|
Год 2020
|
0
|
0
|
0
|
4
|
4
|
|
Год 2021
|
0
|
0
|
0
|
3
|
3
|
|
Год 2022
|
0
|
0
|
0
|
1
|
1
|
|
Год 2023
|
0
|
0
|
0
|
10
|
10
|
|
Год 2024
|
0
|
0
|
0
|
3
|
3
|
|
Всего
|
0
|
0
|
0
|
21
|
21
|
