В пособии кратко описываются основные типы патентных исследований: анализ общей патентной ситуации, исследования технического уровня объекта техники, тенденций развития, патентоспособности, патентной чистоты. Показаны принципиальные отличия этих видов патентных исследований друг от друга по содержанию. Перечислены и охарактеризованы основные этапы проведения патентных исследований, включая общий порядок проведения, составление регламента поиска, поиск и отбор патентной и другой документации, систематизация и анализ отобранной документации. Более подробно описываются патентные исследования по анализу общей патентной ситуации. Рассмотрены особенности проведении патентного поиска в различных базах данных в сети интернет: в базе данных ФИПС Espacenet Questel. Проанализированы особенности используемых подходов, достоинства и недостатки этих баз данных, даны рекомендации по проведению поиска. Предназначено для студентов спецкурса «Разработка и коммерциализация новых материалов» и студентов старших курсов, обучающихся по любым техническим специальностям, а также инженеров, аспирантов и научных сотрудников, профессиональная деятельность которых связана с созданием новых объектов техники.