Сергеев, В. А. Оценка неоднородности распределения плотности тока и температуры в структурах биполярных и гетеробиполярных высокочастотных и сверхвысокочастотных транзисторов по рекомбинационному излучению / В. А. Сергеев, И. В. Фролов, А. А. Казанков. — 1 файл (303 Кб). — (Спектроскопия конденсированного состояния). — DOI 10.61011/OS.2023.11.57001.5050-23. — Текст: электронный // Оптика и спектроскопия. – 2023. – Т. 131, № 11. — С. 1461-1463. — Загл. с титул. экрана. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://elibrary.ru/item.asp?id=60019296>.