Анализ локальных областей полупроводниковых нанообъектов методом туннельной атомно-силовой микроскопии [Электронный ресурс] = Local analysis of semiconductor nanoobjects by scanning tunneling atomic force microscopy / Н.А. Лашкова, Н.В. Пермяков, А.И. Максимов и др. — (Физика конденсированного состояния). — Электрон. текстовые дан. (1 файл : 532 Кб) // Научно-технические ведомости Санкт-Петербургского государственного политехнического университета. Сер.: Физико-математические науки = St. Petersburg state polytechnical university journal. Physics and mathematics: научное издание / Министерство образования и науки Российской Федерации. – Санкт-Петербург. – 2015. – Загл. с титул. экрана. — Электронная версия печатной публикации. — Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — Текстовый файл. — Adobe Acrobat Reader 7.0. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/2/5448.pdf>. — <URL:http://doi.org/10.5862/JPM.213.3>.