Представлен новый метод оптического неразрушающего контроля свойств различных материалов: полупроводников, диэлектриков, металлов. Метод основан на измерении геометрических и оптических неоднородностей исследуемых объектов по характеристикам рассеянного объектами излучения. В качестве физического прибора для измерения интенсивности рассеянного объектами излучения.

A new method for nondestructive testing of the optical properties of various has been presented.