Details

Title Методы исследования наноструктур: специальные вопросы зондовой микроскопии: учебное пособие
Creators Габдуллин Павел Гарифович ; Квашенкина Ольга Евгеньевна ; Мишин Максим Валерьевич ; Андреева Наталья Владимировна
Organization Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Imprint Санкт-Петербург: ПОЛИТЕХ-ПРЕСС, 2019
Collection Учебная и учебно-методическая литература ; Общая коллекция
Subjects Наноструктурные материалы ; Электронная микроскопия ; Электронные микроскопы
UDC 537.533.35(075.8) ; 620.22-022.53(075.8)
Document type Tutorial
File type PDF
Language Russian
DOI 10.18720/SPBPU/2/i19-230
Rights Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать)
Record key RU\SPSTU\edoc\61378
Record create date 8/27/2019

Allowed Actions

Action 'Read' will be available if you login or access site from another network

Group Anonymous
Network Internet

Пособие соответствует государственному образовательному стандарту дисциплины «Туннельная и атомно-силовая микроскопия», направлений подготовки магистров «Техническая физика», «Электроника и наноэлектроника». Системно излагаются основы сканирующей зондовой микроскопии. Преподносятся методики работы сканирующих зондовых микроскопов. Дается инновационный подход к объективному выбору методов исследования применительно к специфике объекта исследования. Приводятся сравнительные характеристики и тенденции развития зондовых методов исследования сложных биологических объектов. Предназначено для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям подготовки магистров «Техническая физика», «Электроника и наноэлектроника». Учебное пособие может быть использовано при обучении студентов направлений подготовки «Химия, физика и механика материалов», «Материаловедение и технологии материалов».

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All
Read Print
Internet Authorized users SPbPU
Read Print
Internet Anonymous

Access count: 121 
Last 30 days: 9

Detailed usage statistics