Details
| Title | Многовариантное резервирование в сверхнадежной цифровой аппаратуре катастрофоустойчивых интеллектуальных транспортных систем // Транспортные системы: сборник трудов Международной научно-практической конференции, 13–17 октября 2025 года, Санкт-Петербург |
|---|---|
| Creators | Тюрин Сергей Феофентович ; Никитин Максим Сергеевич |
| Organization | Пермский национальный исследовательский политехнический университет ; Пермский государственный национальный исследовательский университет |
| Imprint | Санкт-Петербург: ПОЛИТЕХ-ПРЕСС, 2025 |
| Collection | Общая коллекция |
| Document type | Article, report |
| Language | Russian |
| DOI | 10.18720/SPBPU/2/id25-563 |
| Rights | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование) |
| Additionally | New arrival |
| Record key | RU\SPSTU\edoc\77937 |
| Record create date | 12/29/2025 |
Allowed Actions
–
Action 'Read' will be available if you login or access site from another network
Action 'Download' will be available if you login or access site from another network
| Group | Anonymous |
|---|---|
| Network | Internet |
Предложено использовать при синтезе высоконадежных цифровых устройств для катастрофоустойчивых, живучих интеллектуальных транспортных систем многовариантное резервирование как на уровне каналов, так и на уровне отдельного эле-мента с резервированием отдельных транзисторов. Представлены методы поиска наиболее предпочтительного варианта резервирования на этих двух уровнях структурной схемы надежности, при этом резервирование транзисторов оценивается путем топологического моделирования, а резервирование каналов – путем оптимизации в Excel методом обобщенного приведенного градиента или эволюционным.
It is proposed to use multi-option redundancy both at the channel level and at the level of an individual element with redundancy of individual transistors in the synthesis of highly reliable digital devices for disaster-recovery survivable intelligent transport systems. Methods for finding the most preferable redundancy option at these two levels of the reliability structure diagram are presented, with transistor redundancy being estimated by topological sim-ulation and channel redundancy being estimated by optimization in Excel by the generalized reduced gradient method or evolutionary.
| Network | User group | Action |
|---|---|---|
| ILC SPbPU Local Network | All |
|
| Internet | Authorized users SPbPU |
|
| Internet | Anonymous |
|
Access count: 0
Last 30 days: 0
