Панькин, Дмитрий Васильевич. Возможность применения спектроскопии комбинационного рассеяния света для оценки толщины интерфейсного слоя в сверхрешетках AlN/GaN = The applicability of Raman spectroscopy for estimation of interfaces thickness in the AlN/GaN superlattices [Электронный ресурс] / Д. В. Панькин, М. Б. Смирнов. — Электрон. текстовые дан. (1 файл : 671 КБ) // Научно-технические ведомости Санкт-Петербургского государственного политехнического университета. Сер.: Физико-математические науки = St. Petersburg state polytechnical university journal. Physics and mathematics: научное издание / Министерство образования и науки Российской Федерации. – Санкт-Петербург. – 2016. – Загл. с титул. экрана. — Электронная версия печатной публикации. — Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — Текстовый файл. — Adobe Acrobat Reader 7.0. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/2/j16-282.pdf>. — <URL:http://doi.org/10.5862/JPM.242.3>.