Панькин, Дмитрий Васильевич. Возможность применения спектроскопии комбинационного рассеяния света для оценки толщины интерфейсного слоя в сверхрешетках AlN/GaN = The applicability of Raman spectroscopy for estimation of interfaces thickness in the AlN/GaN superlattices [Электронный ресурс] / Д. В. Панькин, М. Б. Смирнов. — Электрон. текстовые дан. (1 файл : 671 КБ) // Научно-технические ведомости Санкт-Петербургского государственного политехнического университета. Сер.: Физико-математические науки = St. Petersburg state polytechnical university journal. Physics and mathematics: научное издание / Министерство образования и науки Российской Федерации. – Санкт-Петербург. – 2016. – Загл. с титул. экрана. — Электронная версия печатной публикации. — Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — Текстовый файл. — Adobe Acrobat Reader 7.0. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/2/j16-282.pdf>. — <URL:http://doi.org/10.5862/JPM.242.3>.
Период
|
Чтение
|
Печать
|
Копирование
|
Открытие
|
Итого
|
Год 2016
|
27
|
0
|
55
|
0
|
82
|
Год 2017
|
39
|
0
|
38
|
0
|
77
|
Год 2018
|
42
|
0
|
24
|
0
|
66
|
Год 2019
|
13
|
0
|
69
|
0
|
82
|
Год 2020
|
31
|
0
|
34
|
0
|
65
|
Год 2021
|
28
|
0
|
31
|
0
|
59
|
Год 2022
|
40
|
0
|
31
|
0
|
71
|
Год 2023
|
10
|
0
|
27
|
0
|
37
|
Год 2024
|
14
|
0
|
14
|
0
|
28
|
Всего
|
244
|
0
|
323
|
0
|
567
|